Microscopia Eletrônica de Varredura: potencialidades e aplicações

Abstract

O microscópico óptico ilumina o objeto com luz visível ou luz ultravioleta. O limite máximo de resolução é estabelecido pelo efeito da difração devido ao comprimento de onda da radiação incidente, possuindo uma limitação de aumento máximo de 200 vezes, pois acima desse valor, detalhes menores são imperceptíveis. Assim, com intuito de aperfeiçoar a técnica para visualização de materiais em uma melhor resolução, o microscópio eletrônico de varredura, foi instituído. No presente trabalho, teve como objetivo a realização de uma prospecção da produção científica dos artigos publicados ao longo dos anos; exposição de métodos de preparação das amostras para a técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV), onde estas, por exemplo, possuem uma alta resolução, quando caracterizadas como semicondutores e condutores. Já a espectroscopia de energia dispersiva de raios X é uma técnica acoplada ao MEV que visa a análise elementar e a caracterização química de uma amostra. Para tanto, a prospecção foi realizada tendo como a base cientifica a Web of Science, os materiais foram analisados em um Microscópio Eletrônico de Varredura, equipado com um espectrômetro de energia dispersiva de raios X (EDS). Sendo assim, o presente trabalho é disponibilizado como material técnico-didático em microscopia eletrônica de varredura, visando aprimorar ainda mais as técnicas de preparação das amostras, oferecendo um conhecimento de levantamento científico sobre técnica e ainda melhoria na qualidade dos trabalhos que dispõe desta para as caracterizações das respectivas amostras.